阵列涡流缺陷检测仪器

 主处理器采用先进的FPGA 数字信号处理技术 （ ‌Xilinx Zynq‌ 系列，工作频率大于等于 80 MHz)  高速采样 80MHz，14 位 ADC转换器  激励和测量频率范围：5kHz - 1MHz  具备不锈钢材料表面及近表面缺陷检测功能；  检测信号显示界面有阻抗平面、时基扫描等显示模式；  测量精度：最小可检出缺陷尺寸(毫米)：≥10×0.1×0.2 (长×宽×深)；  提离高度：大于2毫米；  人机交互：带有高清2K分辨率10.1英寸的触屏；  大于每秒150 帧图像和数据输出，瞬时C扫成像，无处理滞后；  标准数据库储存，及时回放和进一步离线分析；  内置智能电池组，可以边充电边测量，提高工作效率；  测量组合由用户灵活定义， 可以配置为EMT（电磁层析成像）模式，用于管道电磁层析成像。  通道:16 ，需要可扩展，至64通道。

按行业标准提供服务